介電常數介質損耗測試儀

儀器介紹

    LJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

    技術參數

    LJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 LJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術：

    1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

    2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

    3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

    4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

    6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

    7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

    LJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位

    介電常數介質損耗測試儀主要技術特性